反射型エンコーダディスクの信号が弱い、内挿誤差が大きい?まず高反射部と低反射部のコントラストを確認

反射型エンコーダの信号は、ディスクの高反射部と低反射部の光強度差から得られます。本記事では、コントラストの計算方法と計算例を示し、高反射部の反射率を上げるよりも低反射部の反射率を下げるほうが効果的であることと、見積依頼時に明記すべき光学パラメータを説明します。

2026-10-02 · 廊坊晶正光電技術有限公司

反射型エンコーダの信号は、ディスクの高反射部と低反射部の光強度差から得られます。この差が大きいほど信号振幅が大きく、S/N比が高くなり、内挿後の誤差も小さくなります。この差を表す指標がコントラストです:

コントラスト C =(高反射部の反射率 − 低反射部の反射率)÷(高反射部の反射率 + 低反射部の反射率)
高反射部低反射部コントラスト C
90%1%0.98
70%1%0.97
65%10%0.73
50%20%0.43

高反射部の反射率を上げるより、低反射部の反射率を下げるほうが効果的です。高反射部を65%に保ったまま低反射部を10%から1%に下げると、コントラストは0.73から0.97に上がります。一方、低反射部を10%に保ったまま高反射部を65%から90%に上げても、0.80にしか上がりません。

見落としやすい3つのポイント

  1. 反射率は波長によって変わります。読取りヘッドが850 nmの赤外光か460 nmの青色光かによって、同じディスクでも値が異なります。見積依頼時には読取りヘッドの波長を明記してください。
  2. 均一性は平均値と同じくらい重要です。1周内で反射率にばらつきがあると信号振幅もそれに応じて変動し、内挿誤差が大きくなります。
  3. 迷光は低反射部の読み取り値を押し上げます。低反射部に粗面による散乱ではなく光吸収層を用いることで、余分な光を吸収できます。

一般的な構成

  • 鏡面金属基材 + 光吸収膜とし、高反射部上の光吸収膜をフォトリソグラフィ・エッチングで除去
  • 光吸収基材 + 反射膜とし、低反射部上の反射膜をフォトリソグラフィ・エッチングで除去
  • 任意の基材上に反射膜と光吸収膜を1層ずつ積層し、フォトリソグラフィを行う

晶正光電の実用新案CN217210914U「光学反射型エンコーダディスク、エンコーダおよびリニアスケール」(2022年登録)は、まさに反射材料と光吸収材料を積層した構造を採用しています。明細書では、反射膜の460 nmおよび850 nm帯域における反射率は >90%、光吸収膜は <1% とされています。量産品の具体的な仕様は仕様書に準じます。

見積依頼時に明記すべき項目

読取りヘッドの波長、高反射部と低反射部それぞれの要件、反射率の均一性、膜の密着性と耐擦過性の要件。

本記事は廊坊晶正光電技術有限公司 技術部がまとめたものです。晶正光電はガラスエンコーダディスク、反射型金属エンコーダディスク、PCエンコーダディスク、カスタムエンコーダディスクを製造しています。公式サイト www.encoderdisk.cn、電話 0316-8933331。