엔코더 디스크 수입검사 항목: 외관 결함, 치수 및 광학 특성
엔코더 디스크 수입검사 항목 목록: 외관 결함, 치수 및 동심도, 눈금선 품질, 광학 특성과 함께 검사 방법, 샘플링 및 판정 기준 등 공급업체와 사전에 합의해야 할 내용을 다룹니다.
2026-10-04 · Langfang Jingzheng Optoelectronic Technology Co., Ltd.
엔코더 디스크에 핀홀 하나, 단선 하나만 있어도 엔코더에서 펄스 누락이나 주기적 오차가 발생할 수 있습니다. 수입검사는 네 가지 항목군으로 나누어 실시하고, 판정 기준은 발주 전에 공급업체와 서면으로 합의할 것을 권장합니다.
| 구분 | 검사 항목 | 일반적인 방법 |
|---|---|---|
| 외관 결함 | 치핑, 크랙, 스크래치, 핀홀, 단선, 잔류 접착제, 오염 | 실체 현미경, AOI(자동 광학 검사) |
| 치수 | 외경, 내경, 두께, 내경에 대한 패턴 동심도 | 영상 측정기, 마이크로미터 |
| 눈금선 | 선폭, 격자 피치, 듀티비, 눈금선 완전성, 원점 위치 | 영상 측정기, 현미경, AOI |
| 광학 특성 | 투과형: 차광 영역의 광학 농도(OD); 반사형: 고반사 영역 및 저반사 영역의 반사율 | 투과 농도계, 분광 광도계 또는 반사율계로 판독 헤드 파장에서 측정 |
영역별 결함 판정
트랙 영역 내의 결함은 신호에 직접 영향을 미치므로 가장 엄격한 기준이 요구되며, 트랙 바깥의 조립 영역은 기준을 완화할 수 있습니다. 일반적으로 엔코더 디스크를 트랙 영역과 비트랙 영역으로 나누고 각각 허용 결함 크기와 수량을 합의합니다(예: “트랙 영역 내 단선 및 라인을 가로지르는 핀홀 불허”). 구체적인 수치는 판독 헤드의 광 스폿 크기와 신호 마진에 따라 정합니다.
샘플링 및 기록
- 초도 로트와 설계 변경 후 첫 로트는 전수 검사하고, 품질이 안정된 후에는 합의된 샘플링 계획에 따라 샘플링 검사
- 납품 시 검사 성적서를 첨부하도록 공급업체에 요구(최소한 치수, 동심도 및 광학 특성의 실측값 포함)
- 가능하면 자사 판독 헤드에 장착하여 1회전 동안의 신호 진폭과 위상을 측정(외관 검사보다 실제 성능을 더 잘 반영)
포장 및 보관
엔코더 디스크는 서로 마찰하지 않도록 칸막이로 분리하여 포장해야 하며, 유리 엔코더 디스크는 낙하에 주의해야 합니다. 취급 시에는 손가락 골무를 착용하고 외곽과 내경 부분만 잡으며, 트랙 영역은 만지지 않아야 합니다.
Jingzheng Optoelectronics는 출하 시 모든 엔코더 디스크에 대해 AOI로 눈금선 완전성, 피치 및 표면 결함을 검사하고, 주요 치수는 영상 측정기로 재확인하며, 투광 영역과 차광 영역은 광학 농도를 검사합니다.
본 글은 Langfang Jingzheng Optoelectronic Technology Co., Ltd. 엔지니어링 부서에서 정리하였습니다. Jingzheng Optoelectronics는 유리 엔코더 디스크, 반사형 금속 엔코더 디스크, PC 엔코더 디스크 및 맞춤형 엔코더 디스크를 생산합니다. 웹사이트: www.encoderdisk.cn, 전화: 0316-8933331.